芯片、模塊和器件制造商可以基于該平臺驗證和優化其產品的射頻性能

　　新聞要點：

　　·是德科技提供窄帶物聯網（NB-IoT）射頻驗證測試方案，旨在評估和優化窄帶物聯網產品的設計

　　·是德科技窄帶物聯網測試解決方案是以E7515A UXM為基礎設計的綜合測試平臺，中標銳迪科項目，有力支持窄帶物聯網產品在實際工作模式下的射頻性能驗證

　　2017 年 6 月 1 日，北京――是德科技（NYSE：KEYS）日前宣布，其行業領先的窄帶物聯網（NB-IoT）射頻性能測試方案中標銳迪科微電子（RDA）項目，助力銳迪科加速NB-IoT芯片的測試。

　　NB-IoT是國際標準組織3GPP設計的、面向物聯網應用的窄帶蜂窩無線通信技術。其深度的覆蓋和極低的功耗對于芯片研發提出了新的挑戰，不僅有更嚴的射頻指標，還提出了新的工作模式。芯片廠家在進行NB-IoT芯片研發過程中，需要深入考慮產品在各種實際工作場景下的射頻性能，以保證穩定的連接和覆蓋。

　　是德科技與銳迪科正在就NB-IoT測試計劃展開合作以確保更高的NB-IoT芯片質量。利用行業領先的NB-IoT綜合測試解決方案，控制芯片進入特定的工作模式，可以對芯片的射頻性能指標進行全面高效的高精度測量和驗證，成功地促進了芯片的研發進度。

　　“是德科技基于E7515A UXM的NB-IoT測試解決方案是行業領先的NB-IoT芯片射頻測試方案，”是德科技副總裁、無線芯片事業部總經理Giampaolo Tardioli表示：“能與如銳迪科這樣的行業領先客戶展開合作，是德科技能提供更完整、可擴展性更強的解決方案，來幫助客戶在降低成本的同時將產品更快地推向市場。”

　　銳迪科研發副總裁王靖明表示：“銳迪科一直以來與是德科技保持良好的合作關系，是德科技提供的NB-IoT綜合測試解決方案能夠促進我們的工程師更快地發現問題，極大地提升我們的研發進度。未來銳迪科將與是德科技展開更深入的合作。”