基于盲均衡技術的寬帶IQ不平衡補償設計與實現
2023年電子技術應用第2期
唐婷
中國西南電子技術研究所，四川 成都 610036
摘要： 針對寬帶信號的IQ不平衡問題，給出了基于盲均衡技術的補償設計方法。該方法通過改進高速解調器的均衡器設計，采用自適應盲均衡技術計算IQ不平衡補償濾波器，使得均衡器同時具有IQ不平衡補償和減小碼間串擾的功能。在工程應用中，該方法不會增加額外的資源消耗和硬件設計復雜度。測試結果表明，該方法可適用于多種調制方式信號，能有效補償IQ不平衡。
中圖分類號：TN76
文獻標志碼：A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.223242
中文引用格式： 唐婷. 基于盲均衡技術的寬帶IQ不平衡補償設計與實現[J]. 電子技術應用，2023，49(2)：72-75.
英文引用格式： Tang Ting. Design and realization of wideband IQ imbalance compensation based on blind equalization[J]. Application of Electronic Technique，2023，49(2)：72-75.
文獻標志碼：A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.223242
中文引用格式： 唐婷. 基于盲均衡技術的寬帶IQ不平衡補償設計與實現[J]. 電子技術應用，2023，49(2)：72-75.
英文引用格式： Tang Ting. Design and realization of wideband IQ imbalance compensation based on blind equalization[J]. Application of Electronic Technique，2023，49(2)：72-75.
Design and realization of wideband IQ imbalance compensation based on blind equalization
Tang Ting
Southwest China Institute of Electronic Technology， Chengdu 610036， China
Abstract： In order to solve the wideband IQ imbalance problem, a compensation design based on blind equalization is presented. An improved equalizer design is used in high speed demodulator, which computes IQ imbalance compensation filter by adaptive blind equalization technology, therefore the equalizer has the ability to compensate IQ imbalance and reduce inter symbol interference. In engineering application, this method does not increase additional resource consumption and hardward design complexity. The test result shows this method can compensate IQ imbalance effectively in multiple modulation modes.
Key words : IQ imbalance；blind equalization；wideband signal；high speed demodulator
0 引言
隨著無線通信的迅速發展，人類航天活動與日俱增，空間飛行器數量急劇增加，導致空間有限的頻率資源大量占用。目前S、X、Ku頻段已非常擁擠頻段，高頻段[1-4]衛星通信因其具有可提供的帶寬大、通信容量大、波束窄、終端尺寸小等優勢成為未來衛星通信的必然趨勢。近年來，越來越多的國家和機構相繼加入到對更高頻段衛星通信系統的開發和使用之中[5-9]。
高頻段調制信號可通過多級變頻或直接變頻產生。多級變頻方式設備體積較大且多級非線性失真相互混疊，各級諧波相互疊加，導致調制信號質量下降；直接變頻方式與多級變頻相比設備體積較小，但由于頻率更高，受到射頻模擬器件非理想特性、不一致性影響更為嚴重，導致IQ支路間信號幅度出現差異、相位出現偏移，即IQ不平衡。對于寬帶信號，IQ不平衡尤為突出。IQ不平衡將降低接收信號的性能，導致誤碼的產生。
本文詳細內容請下載：http://m.rjjo.cn/resource/share/2000005172。
作者信息：
唐婷
（中國西南電子技術研究所，四川 成都 610036）
此內容為AET網站原創，未經授權禁止轉載。