一、培訓背景
隨著科技的飛速發展，電子產品的更新換代速度日益加快，對電子測試測量技術的要求也越來越高。為了確保電子產品的質量和性能，測試測量環節顯得尤為重要。然而，當前電子測試測量領域面臨著諸多挑戰，如測試方案的復雜性增加、新元器件的不斷涌現以及測試儀器設備的快速更新等。這些因素都對測試測量人員的專業知識和技能提出了更高的要求。
為了應對這些挑戰，提升電子測試測量領域人員的專業水平，特舉辦此次“2024年電子測試測量基礎方案培訓”。本次培訓旨在通過系統的教學和實踐，使學員掌握電子產品完整測試的基礎知識、基礎元器件的測試方案以及相關的儀器設備使用，為電子產品的質量和性能提供有力保障。
二、培訓對象及目標
1.電子測試測量領域的初學者和工程師，希望系統學習電子產品測試測量基礎知識和技能的；
2.從事電子產品研發、生產、質檢等相關工作的技術人員，需要提升測試測量能力的；
3.對電子測試測量感興趣，希望深入了解并掌握相關技術和方法的愛好者；
4.企事業單位中負責電子產品測試測量的團隊，需要提升整體測試水平和效率的；
5.高校電子工程、測試測量技術等相關專業的教師、學生，希望深入了解電子測試測量領域，提升教學和科研能力的。
三、培訓目標
1.掌握電子產品完整測試流程
2.熟悉基礎元器件測試方案
3.了解相關儀器設備使用
4.提升實踐操作能力
5.培養問題解決能力
四、培訓費用
參加的學員通過掃描二維碼交納培訓費用，費用優惠至9.90元人民幣/人（包括本期所有培訓內容）。
五、師資介紹
蔡光躍：上海電子信息職業技術學院教師，高級電子
技術工程師，AHK認證電工，原固緯電子（蘇州）有限公
司技術總監，精通電子測試測量儀器的技術應用，有17年
的行業從業經驗。
六、往期課程
關于《電子技術應用》
《電子技術應用》（簡稱AET）是面向電子與信息科學領域的綜合性期刊，旨在反映電子與信息科學領域的創新性技術及研究成果。AET重點報道領域包括：微電子學與集成電路、通信技術、信號與信息處理、電子元件與電路、光電子技術、微波與射頻、雷達與導航、電子測量與儀器、人工智能與模式識別、網絡技術與安全、物聯網技術、大數據與云計算、圖形與圖像處理等。AET創刊于1975年，多次獲得中國期刊最高獎項——國家期刊獎，長期入選北大中文核心期刊（第1版～第7版）及中國科技論文統計源期刊、RCCSE中國核心學術期刊；目前擁有30,000訂閱讀者。
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